寬能隙半導體(Wide Band Gap)具備優越的耐高壓、高溫及低損耗高功率等特性,近幾年被應用於電池能源、車電系統、5G行動電信等領域,其重要性及未來性廣受各方關注,儼然是未來產業的發展重心之一。新興技術的應用往往伴隨不少變革及挑戰,洞悉趨勢掌握驗證關鍵,有助於確立未來技術的領先地位。
2024年8月15日DEKRA iST德凱宜特與iST宜特科技聯合舉辦「寬能隙半導體分析技術暨未來應用關鍵驗證研討會」,本次研討會邀請多年深耕驗證領域的專家講師,深入解析寬能隙半導體技術在市場上的應用現況,探討如何透過適當的分析手法及工具,找出失效模式和機制,協助製造商有效提升良率及解決問題,進而提升產品的可靠度和技術競爭力。同時,因應大量的寬能隙半導體被使用在新能源汽車產業,此次研討會也將分享EV生態圈的發展趨勢,包含EV Powertrain(動力總成)與車用充電樁的發展及國際規範改版動向。
議程
在未來技術發展的浪潮中,掌握關鍵趨勢至為重要,誠摯邀請您一起了解寬能隙半導體的分析及驗證技術,DEKRA iST德凱宜特與iST宜特科技將攜手解決您的痛點!
—活動資訊—
主辦單位:DEKRA iST德凱宜特、iST宜特科技
日 期: 2024年8月15日(四) 13:00–16:00
地 點:德凱宜特9樓訓練教室(300新竹市埔頂路19號)
報名期限:即日起至2024/8/12 (一)12:00止。
費 用:免費(名額有限,欲報從速)