德凱宜特建置的電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM) 屬場發射型掃描電子顯微鏡，利用電子束掃描待測物表面，吸收訊號來呈現影像，並具放大倍率的特點，可對大多數樣品的形態和表面結構進行觀察。另外，此電子顯微鏡搭配能量散射X-ray譜分析(Energy Dispersive X-ray Spectroscopy, EDS)，能快速及有效率的對樣品進行定性或半定量分析。

SEM能對樣品表面和剖面(Micro Section)結構進行放大觀察，特別是失效樣品的微觀分析，同時對樣品表面進行EDS元素分析，可加速𨤸清失效現象的可能原因。
 
主要應用
  • 針對各種材料表面微結構觀察
 
<表面錫晶格觀察>
  • 元件組裝前後焊點表面錫鬚生長以及測量
 
<錫鬚(whisker)觀察及測量>
  • 鍍層厚度測量
  • 元件和焊點剖面金相結構觀察，如打線，孔洞，微裂和金屬化合物
 
<介金屬化合物(IMC)量測厚度>
  • 材料元素分析(EDS)
 
<EDS分析異物元素>

 

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